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| タイトル: | Frequency noise in frequency modulation atomic force microscopy |
| 著者: | Kobayashi, Kei   https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Yamada, Hirofumi Matsushige, Kazumi |
| キーワード: | atomic force microscopy Brownian motion cantilevers frequency modulation noise measurement oscillations sensors thermal noise |
| 発行日: | 2009 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS |
| 巻: | 80 |
| 号: | 4 |
| 論文番号: | 043708 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/109529 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.3120913 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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