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タイトル: Triple Shockley type stacking faults in 4H-SiC epilayers
著者: Feng, Gan
Suda, Jun
Kimoto, Tsunenobu  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
キーワード: photoluminescence
semiconductor epitaxial layers
silicon compounds
stacking faults
transmission electron microscopy
wide band gap semiconductors
発行日: 2009
出版者: AMER INST PHYSICS
誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS
巻: 94
号: 9
論文番号: 091910
URI: http://hdl.handle.net/2433/109611
DOI(出版社版): 10.1063/1.3095508
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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