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タイトル: Simulation for prediction of distribution of critical current among specimens under low applied bending strains near the average irreversible strain in Bi2223 composite tape
著者: Ochiai, S.  KAKEN_id
Fujimoto, M.
Okuda, H.  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)
Oh, S.S.
Ha, D.W.
著者名の別形: 落合, 庄治郎
キーワード: A. Superconductors
C. Critical current density
C. Stress effects
発行日: Nov-2010
出版者: Elsevier Ltd
誌名: Cryogenics
巻: 50
号: 11-12
開始ページ: 765
終了ページ: 771
抄録: When many multi-filamentary Bi2223 composite specimens with different irreversible bending strain to each other are tested, number of damaged specimens among all increases with bending strain in the low bending strain region near the average irreversible strain. The present work attempted to predict the distribution of critical current among many specimens in such a low bending strain region with a proposed simulation method that uses the damage evolution model, Monte Carlo method and the experimental data measured at limited strains. With the proposed simulation method, statistical features in variation of distribution of critical current values among specimens near the average irreversible bending strain were elucidated.
著作権等: © 2010 Elsevier Ltd
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URI: http://hdl.handle.net/2433/131815
DOI(出版社版): 10.1016/j.cryogenics.2010.10.003
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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