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| タイトル: | Visualization of the Local Carrier Dynamics in an InGaN Quantum Well Using Dual-Probe Scanning Near-Field Optical Microscopy |
| 著者: | Kaneta, Akio Hashimoto, Tsuneaki Nishimura, Katsuhito Funato, Mitsuru    https://orcid.org/0000-0002-5455-3757 (unconfirmed)Kawakami, Yoichi https://orcid.org/0000-0003-3752-1507 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | JAPAN SOC APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS EXPRESS |
| 巻: | 3 |
| 号: | 10 |
| 論文番号: | 102102/1-3 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146384 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/APEX.3.102102 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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