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| タイトル: | A New Spectrophotometer System for Measuring Hemispherical Reflectance and Normal Emittance of Real Surfaces Simultaneously |
| 著者: | Makino, Toshiro Wakabayashi, Hidenobu   |
| キーワード: | Hemispherical reflectance Normal emittance Real surface Simultaneous measurement Spectroscopic measurement Thermal radiation |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | SPRINGER/PLENUM PUBLISHERS |
| 誌名: | INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS |
| 巻: | 31 |
| 号: | 11-12 |
| 開始ページ: | 2283 |
| 終了ページ: | 2294 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146586 |
| DOI(出版社版): | 10.1007/s10765-010-0849-y |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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