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| タイトル: | Measurement of anisotropic fatigue life in micrometre-scale single-crystal silicon specimens |
| 著者: | Ikehara, T. Tsuchiya, T.    https://orcid.org/0000-0002-7846-5831 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | INST ENGINEERING TECHNOLOGY-IET |
| 誌名: | MICRO & NANO LETTERS |
| 巻: | 5 |
| 号: | 1 |
| 開始ページ: | 49 |
| 終了ページ: | 52 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146625 |
| DOI(出版社版): | 10.1049/mnl.2009.0073 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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