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タイトル: Photo-Leakage Current of Zinc Oxide Thin-Film Transistors
著者: Kamada, Yudai
Fujita, Shizuo  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0001-6384-6693 (unconfirmed)
Hiramatsu, Takahiro
Matsuda, Tokiyoshi
Nitta, Hiroshi
Furuta, Mamoru
Hirao, Takashi
発行日: 2010
出版者: JAPAN SOC APPLIED PHYSICS
誌名: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
巻: 49
号: 3
論文番号: 03CB03
URI: http://hdl.handle.net/2433/146701
DOI(出版社版): 10.1143/JJAP.49.03CB03
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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