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| タイトル: | SIMS with highly excited primary beams for molecular depth profiling and imaging of organic and biological materials |
| 著者: | Matsuo, Jiro   https://orcid.org/0000-0003-0684-3677 (unconfirmed)Ninomiya, Satoshi Yamada, Hideaki Ichiki, Kazuya Wakamatsu, Yoshinobu Hada, Masaki Seki, Toshio  https://orcid.org/0000-0002-0834-1657 (unconfirmed)Aoki, Takaaki https://orcid.org/0000-0002-5926-4903 (unconfirmed) |
| キーワード: | SIMS cluster ion beam molecular depth profiling swift heavy ion beam |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | JOHN WILEY & SONS LTD |
| 誌名: | SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS |
| 巻: | 42 |
| 号: | 10-11 |
| 開始ページ: | 1612 |
| 終了ページ: | 1615 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146704 |
| DOI(出版社版): | 10.1002/sia.3585 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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