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| タイトル: | A procedure to determine the optimum imaging parameters for atomic/molecular resolution frequency modulation atomic force microscopy |
| 著者: | Hosokawa, Yoshihiro Kobayashi, Kei    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Oyabu, Noriaki Matsushige, Kazumi Yamada, Hirofumi |
| キーワード: | atomic force microscopy frequency modulation organic semiconductors oscillations semiconductor thin films |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS |
| 巻: | 81 |
| 号: | 9 |
| 論文番号: | 93701 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146783 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.3477995 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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