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| タイトル: | High-Resolution Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids Using Electrostatic Excitation Method |
| 著者: | Umeda, Ken-ichi Oyabu, Noriaki Kobayashi, Kei    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Hirata, Yoshiki Matsushige, Kazumi Yamada, Hirofumi |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | JAPAN SOC APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS EXPRESS |
| 巻: | 3 |
| 号: | 6 |
| 論文番号: | 65205 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146792 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/APEX.3.065205 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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