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| タイトル: | Impacts of recombination at the surface and in the substrate on carrier lifetimes of n-type 4H-SiC epilayers |
| 著者: | Kimoto, Tsunenobu    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)Hiyoshi, Toru Hayashi, Toshihiko Suda, Jun |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| 巻: | 108 |
| 号: | 8 |
| 論文番号: | 83721 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146882 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.3498818 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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