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| タイトル: | Nondestructive Visualization of Individual Dislocations in 4H-SiC Epilayers by Micro Photoluminescence Mapping |
| 著者: | Feng, Gan Suda, Jun  Kimoto, Tsunenobu   https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | JAPAN SOC APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| 巻: | 49 |
| 号: | 9 |
| 論文番号: | 90201 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146886 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.49.090201 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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