このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
| タイトル: | Sources of Epitaxial Growth-Induced Stacking Faults in 4H-SiC |
| 著者: | Feng, Gan Suda, Jun  Kimoto, Tsunenobu   https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed) |
| キーワード: | 4H-SiC stacking faults micro-PL mapping |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | SPRINGER |
| 誌名: | JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS |
| 巻: | 39 |
| 号: | 8 |
| 開始ページ: | 1166 |
| 終了ページ: | 1169 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146890 |
| DOI(出版社版): | 10.1007/s11664-010-1192-6 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。