Switching characteristics of lateral-type and vertical-type SiC JFETs depending on their internal parasitic capacitances

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タイトル:	Switching characteristics of lateral-type and vertical-type SiC JFETs depending on their internal parasitic capacitances
著者:	Phankong, Nathabhat Funaki, Tsuyoshi https://orcid.org/0000-0001-8776-5118 (unconfirmed) Hikihara, Takashi https://orcid.org/0000-0002-0029-4358 (unconfirmed)
キーワード:	C-V characteristics switching characteristics SiC JFET device structure
発行日:	2010
出版者:	IEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENG
誌名:	IEICE ELECTRONICS EXPRESS
巻:	7
号:	14
開始ページ:	1051
終了ページ:	1057
著作権等:	(c) 社団法人電子情報通信学会
URI:	http://hdl.handle.net/2433/152258
DOI(出版社版):	10.1587/elex.7.1051
関連リンク:	http://www.ieice.org/eng/trans_online/index.html
出現コレクション:	学術雑誌掲載論文等

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