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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| elex.7.480.pdf | 477.37 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Characterization of the gate-voltage dependency of input capacitance in a SiC MOSFET |
| 著者: | Phankong, Nathabhat Funaki, Tsuyoshi   https://orcid.org/0000-0001-8776-5118 (unconfirmed)Hikihara, Takashi  https://orcid.org/0000-0002-0029-4358 (unconfirmed) |
| キーワード: | C-V characteristics voltage dependency SiC MOSFET |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | IEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENG |
| 誌名: | IEICE ELECTRONICS EXPRESS |
| 巻: | 7 |
| 号: | 7 |
| 開始ページ: | 480 |
| 終了ページ: | 486 |
| 著作権等: | (c) 社団法人電子情報通信学会 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/152259 |
| DOI(出版社版): | 10.1587/elex.7.480 |
| 関連リンク: | http://www.ieice.org/eng/trans_online/index.html |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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