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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| 110007338392.pdf | 1.04 MB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | 原子間力顕微鏡における制御応用とその展望(<特集>ナノ・マイクロテクノロジーの制御理論と応用) |
| その他のタイトル: | Recent Trends and Perspectives on Control Application in Atomic Force Microscopy(<Special Issue>Control Theories and Applications in Nano and Micro Technologies) |
| 著者: | 山末, 耕平  引原, 隆士    https://orcid.org/0000-0002-0029-4358 (unconfirmed) |
| 著者名の別形: | YAMASUE, Kohei HIKIHARA, Takashi |
| キーワード: | scanning probe microscopy atomic force microscopy nanotechnology cantilever nonlinear dynamics |
| 発行日: | 15-Jun-2009 |
| 出版者: | システム制御情報学会 |
| 誌名: | システム/制御/情報 : システム制御情報学会誌 |
| 巻: | 53 |
| 号: | 6 |
| 開始ページ: | 236 |
| 終了ページ: | 242 |
| 著作権等: | システム制御情報学会; 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/153335 |
| DOI(出版社版): | 10.11509/isciesci.53.6_236 |
| 関連リンク: | http://ci.nii.ac.jp/naid/110007338392/ |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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