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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| ApplPhysLett_87_241906.pdf | 216.67 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Deep-ultraviolet micro-Raman investigation of surface defects in a 4H-SiC homoepitaxially grown film |
| 著者: | Tomita, Takuro Matsuo, Shigeki Okada, Tatsuya Kimoto, Tsunenobu    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)Matsunami, Hiroyuki Mitani, Takeshi Nakashima, Shin-Ichi |
| 著者名の別形: | 木本, 恒暢 松波, 弘之 |
| 発行日: | 12-Dec-2005 |
| 出版者: | American Institute of Physics |
| 引用: | T. Tomita et al., Appl. Phys. Lett. 87, 241906 (2005) |
| 誌名: | Applied Physics Letters |
| 巻: | 87 |
| 号: | 24 |
| 論文番号: | 241906 |
| 著作権等: | Copyright 2005 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics. |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/24190 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.2142080 |
| リンク: | Web of Science |
| 関連リンク: | http://link.aip.org/link/?apl/87/241906 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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