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タイトル: Reduction of doping and trap concentrations in 4H-SiC epitaxial layers grown by chemical vapor deposition
著者: Kimoto, Tsunenobu  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Nakazawa, Satoshi
Hashimoto, Koichi
Matsunami, Hiroyuki
発行日: 22-Oct-2001
出版者: American Institute of Physics
引用: T. Kimoto et al., Appl. Phys. Lett. 79, 2761-2763 (2001)
誌名: Applied Physics Letters
巻: 79
号: 17
開始ページ: 2761
終了ページ: 2763
著作権等: Copyright 2001 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
URI: http://hdl.handle.net/2433/24206
DOI(出版社版): 10.1063/1.1413724
リンク: Web of Science
関連リンク: http://link.aip.org/link/?apl/79/2761
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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