このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
タイトル: Growth and characterization of 4H-SiC in vertical hot-wall chemical vapor deposition
著者: Fujihira, K
Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Matsunami, H
キーワード: characterization
chemical vapor deposition processes
vapor phase epitaxy
semiconducting silicon compounds
発行日: 2003
出版者: ELSEVIER SCIENCE BV
誌名: JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
巻: 255
号: 1-2
開始ページ: 136
終了ページ: 144
URI: http://hdl.handle.net/2433/3457
DOI(出版社版): 10.1016/S0022-0248(03)01245-4
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの詳細レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。