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| タイトル: | Si wafers having one- and two-dimensionally curved (111) planes examined by X-ray diffraction |
| 著者: | Okuda, H    https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)Nakajima, K Fujiwara, K Ochiai, S |
| 発行日: | 2006 |
| 出版者: | BLACKWELL PUBLISHING |
| 誌名: | JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY |
| 巻: | 39 |
| 開始ページ: | 443 |
| 終了ページ: | 445 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/35198 |
| DOI(出版社版): | 10.1107/S0021889806011939 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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