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タイトル: Electron microscopy and diffraction of radiation-sensitive nanostructured materials
著者: Schaper, AK
Yoshioka, T
Ogawa, T  kyouindb  KAKEN_id
Tsuji, M
キーワード: cryo-protection
electron microscopy and diffraction
low-dose microscopy
nanocomposites
organic nanotubes and nanowires
発行日: 2006
出版者: BLACKWELL PUBLISHING
誌名: JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD
巻: 223
開始ページ: 88
終了ページ: 95
URI: http://hdl.handle.net/2433/35503
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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