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タイトル: Dynamic force microscopy at high cantilever resonance frequencies using heterodyne optical beam deflection method
著者: Fukuma, T
Kimura, K
Kobayashi, K  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)
Matsushige, K
Yamada, H  KAKEN_id
発行日: 2004
出版者: AMER INST PHYSICS
誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS
巻: 85
号: 25
開始ページ: 6287
終了ページ: 6289
URI: http://hdl.handle.net/2433/3571
DOI(出版社版): 10.1063/1.1842368
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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