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| タイトル: | Experimental study on energy dissipation induced by displacement current in non-contact aomic force microscopy imaging of molecular thin films |
| 著者: | Fukuma, T Umeda, K Kobayashi, K    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Yamada, H Matsushige, K |
| キーワード: | non-contact AFM Kelvin force microscopy thiophene energy dissipation electrostatic interaction |
| 発行日: | 2002 |
| 出版者: | INST PURE APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS |
| 巻: | 41 |
| 号: | 7B |
| 開始ページ: | 4903 |
| 終了ページ: | 4907 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/3581 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.41.4903 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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