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タイトル: Epitaxial growth of 4H-SiC{0001} and reduction of deep levels
著者: Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Wada, K
Danno, K
キーワード: silicon carbide (SiC)
chemical vapor deposition
surface polarity
deep level
impurity doping
発行日: 2006
出版者: ACADEMIC PRESS LTD ELSEVIER SCIENCE LTD
誌名: SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
巻: 40
号: 4-6
開始ページ: 225
終了ページ: 232
URI: http://hdl.handle.net/2433/35963
DOI(出版社版): 10.1016/j.spmi.2006.06.021
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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