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タイトル: Enantiomorph identification of crystals belonging to the point groups of 622 and 6 by convergent-beam electron diffraction method
著者: Fujii, A
Sakamoto, H
Fujio, S
Tanaka, K
Inui, H  kyouindb  KAKEN_id
キーワード: silicides, various
crystallography
diffraction
electron microscopy, transmission
発行日: 2007
出版者: ELSEVIER SCI LTD
誌名: INTERMETALLICS
巻: 15
号: 2
開始ページ: 154
終了ページ: 167
URI: http://hdl.handle.net/2433/36022
DOI(出版社版): 10.1016/j.intermet.2006.05.001
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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