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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| PhysRevB_63_113314.pdf | 73.65 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Initial oxidation process on Si(001) studied by high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy |
| 著者: | Nakajima, K    https://orcid.org/0000-0002-5390-1262 (unconfirmed)Okazaki, Y Kimura, K |
| 発行日: | 15-Mar-2001 |
| 出版者: | AMERICAN PHYSICAL SOC |
| 誌名: | PHYSICAL REVIEW B |
| 巻: | 63 |
| 号: | 11 |
| 論文番号: | 113314 |
| 著作権等: | Copyright 2001 American Physical Society |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/39846 |
| DOI(出版社版): | 10.1103/PhysRevB.63.113314 |
| 関連リンク: | http://link.aps.org/abstract/PRB/v63/p113314 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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