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| タイトル: | Tracer-diffusion of Ti-44 in TiAl single crystal |
| 著者: | Ikeda, T Kadowaki, H Nakajima, H Inui, H    https://orcid.org/0000-0003-0835-6725 (unconfirmed)Yamaguchi, M Koiwa, M |
| キーワード: | intermetallic compound TiAl, tracer-diffusion L1(0)-type structure |
| 発行日: | 2001 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE SA |
| 誌名: | MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING |
| 巻: | 312 |
| 号: | 1-2 |
| 開始ページ: | 155 |
| 終了ページ: | 159 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/4107 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/S0921-5093(00)01871-2 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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