このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
| タイトル: | Compositional transition layer in SiO2/Si interface observed by high-resolution RBS |
| 著者: | Kimura, K  Nakajima, K   https://orcid.org/0000-0002-5390-1262 (unconfirmed) |
| キーワード: | SiO2/Si transition layer high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy energy loss straggling |
| 発行日: | 2003 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| 巻: | 216 |
| 号: | 1-4 |
| 開始ページ: | 283 |
| 終了ページ: | 286 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/4881 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/S0169-4332(03)00386-6 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。