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タイトル: | Dynamic force microscopy investigations of C-60 deposited on Si(111) surface |
著者: | Kobayashi, K https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed) Yamada, H Horiuchi, T Matsushige, K |
キーワード: | atomic force microscopy dynamic force microscopy C-60 fullerene Si(111) |
発行日: | 1999 |
出版者: | JAPAN J APPLIED PHYSICS |
誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS |
巻: | 38 |
号: | 12B |
開始ページ: | L1550 |
終了ページ: | L1552 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/5001 |
DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.38.L1550 |
リンク: | Web of Science |
出現コレクション: | 英文論文データベース |
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