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| タイトル: | Imaging of fullerene molecules on Si(111)-7 X 7 surface with NC-AFM |
| 著者: | Kobayashi, K    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Yamada, H Horiuchi, T Matsushige, K |
| キーワード: | non-contact AFM STM fullerene C-60 Si(111) contrast inversion |
| 発行日: | 2000 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| 巻: | 157 |
| 号: | 4 |
| 開始ページ: | 228 |
| 終了ページ: | 232 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/5002 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/S0169-4332(99)00531-0 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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