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| タイトル: | Structures and electrical properties of fullerene thin films on Si(111)-7x7 surface investigated by noncontact atomic force microscopy |
| 著者: | Kobayashi, K    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Yamada, H Horiuchi, T Matsushige, K |
| キーワード: | fullerene noncontact atomic force microscopy Kelvin probe method |
| 発行日: | 2000 |
| 出版者: | JAPAN J APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS |
| 巻: | 39 |
| 号: | 6B |
| 開始ページ: | 3827 |
| 終了ページ: | 3829 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/5003 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.39.3827 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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