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タイトル: | Resonance tracking ultrasonic atomic force microscopy |
著者: | Kobayashi, K https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed) Yamada, H Matsushige, K |
キーワード: | atomic force microscopy ultrasonic atomic force microscopy resonance tracking technique frequency-modulated detection method phase-change recording medium |
発行日: | 2002 |
出版者: | JOHN WILEY & SONS LTD |
誌名: | SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS |
巻: | 33 |
号: | 2 |
開始ページ: | 89 |
終了ページ: | 91 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/5007 |
DOI(出版社版): | 10.1002/sia.1168 |
リンク: | Web of Science |
出現コレクション: | 英文論文データベース |
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