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dc.contributor.authorKobayashi, Ken
dc.contributor.authorYamada, Hen
dc.contributor.authorMatsushige, Ken
dc.date.accessioned2007-03-28T03:25:22Z-
dc.date.available2007-03-28T03:25:22Z-
dc.date.issued2002-
dc.identifier.issn0142-2421-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/5007-
dc.language.isoeng-
dc.publisherJOHN WILEY & SONS LTDen
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.subjectultrasonic atomic force microscopyen
dc.subjectresonance tracking techniqueen
dc.subjectfrequency-modulated detection methoden
dc.subjectphase-change recording mediumen
dc.titleResonance tracking ultrasonic atomic force microscopyen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleSURFACE AND INTERFACE ANALYSISen
dc.identifier.volume33-
dc.identifier.issue2-
dc.identifier.spage89-
dc.identifier.epage91-
dc.relation.doi10.1002/sia.1168-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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