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タイトル: Investigation of carrier lifetime in 4H-SiC epilayers and lifetime control by electron irradiation
著者: Danno, K
Nakamura, D
Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
発行日: 14-May-2007
出版者: AMER INST PHYSICS
誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS
巻: 90
号: 20
論文番号: 202109
著作権等: Copyright 2007 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
URI: http://hdl.handle.net/2433/50214
DOI(出版社版): 10.1063/1.2740580
関連リンク: http://link.aip.org/link/?apl/90/202109
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