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タイトル: Correlation between chemical shift of SiK alpha lines and the effective charge on the Si atom and its application in the Fe-Si binary system
著者: Liu, ZL
Sugata, S
Yuge, K  kyouindb  KAKEN_id
Nagasono, M
Tanaka, K
Kawai, J  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-1289-7666 (unconfirmed)
発行日: 2004
出版者: AMERICAN PHYSICAL SOC
誌名: PHYSICAL REVIEW B
巻: 69
号: 3
論文番号: 035106
URI: http://hdl.handle.net/2433/5324
DOI(出版社版): 10.1103/PhysRevB.69.035106
リンク: Web of Science
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