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| タイトル: | Local surface potential measurements of carbon nanotube FETs by Kelvin probe force microscopy |
| 著者: | Miyato, Y Kobayashi, K    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Matsushige, K Yamada, H |
| キーワード: | single wall carbon nanotube dielectrophoresis Kelvin probe force microscopy surface potential Schottky barrier |
| 発行日: | 2005 |
| 出版者: | INST PURE APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS |
| 巻: | 44 |
| 号: | 4A |
| 開始ページ: | 1633 |
| 終了ページ: | 1636 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/5750 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.44.1633 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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