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| タイトル: | Nanoscale electrical properties of molecular films in the vicinity of platinum ultrathin film electrode |
| 著者: | Miyazaki, T Kobayashi, K    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Ishida, K Hotta, S Horiuchi, T Yamada, H Matsushige, K |
| キーワード: | atomic force microscopy (AFM) Kelvin-probe force microscopy (KFM) organic thin film transistor (OTFT) oligothiophene |
| 発行日: | 2003 |
| 出版者: | INST PURE APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS |
| 巻: | 42 |
| 号: | 7B |
| 開始ページ: | 4852 |
| 終了ページ: | 4855 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/5756 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.42.4852 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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