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| タイトル: | Evaluation of capacitance-voltage characteristics for high voltage SiC-JFET |
| 著者: | Funaki, Tsuyoshi   https://orcid.org/0000-0001-8776-5118 (unconfirmed)Kimoto, Tsunenobu  https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)Hikihara, Takashi https://orcid.org/0000-0002-0029-4358 (unconfirmed) |
| キーワード: | C-V characteristics high voltage SiC JFET device structure |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | IEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENG |
| 誌名: | IEICE ELECTRONICS EXPRESS |
| 巻: | 4 |
| 号: | 16 |
| 開始ページ: | 517 |
| 終了ページ: | 523 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67208 |
| DOI(出版社版): | 10.1587/elex.4.517 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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