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| タイトル: | Deep level transient spectroscopy study of defects in hydrogen implanted p-type 4H-SiC |
| 著者: | Alfieri, Giovanni Kimoto, Tsunenobu    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| 巻: | 101 |
| 号: | 10 |
| 論文番号: | 103716 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67215 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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