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| タイトル: | High-bias break of Sn nanocontacts |
| 著者: | Kawakubo, Toru Miura, Daisuke Kurokawa, Shu    https://orcid.org/0000-0003-3934-1040 (unconfirmed)Sakai, Akira |
| キーワード: | metal nanocontacts conductance current-induced contact break instability Sn |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | INST PURE APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS |
| 巻: | 46 |
| 号: | 11 |
| 開始ページ: | 7596 |
| 終了ページ: | 7598 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67523 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.46.7596 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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