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| タイトル: | Statistical analysis of scatter in critical current of bent superconducting Bi2223 composite tape |
| 著者: | Ochiai, S.  Fujimoto, M. Shin, J. K. Okuda, H.   https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)Hojo, M. Osamura, K. Kuroda, T. Itoh, K. Wada, H. |
| キーワード: | Bi2223 composite tape critical current bending statistical analysis |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | PHYSICA C-SUPERCONDUCTIVITY AND ITS APPLICATIONS |
| 巻: | 463 |
| 開始ページ: | 885 |
| 終了ページ: | 890 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67529 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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