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| タイトル: | Sample-length dependence of the critical current of slightly and significantly bent-damaged Bi2223 superconducting composite tape |
| 著者: | Ochiai, S.  Fujimoto, M. Okuda, H.   https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)Oh, S. S. Ha, D. W. |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | IOP PUBLISHING LTD |
| 誌名: | SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY |
| 巻: | 20 |
| 号: | 8 |
| 開始ページ: | 800 |
| 終了ページ: | 809 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67533 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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