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| タイトル: | The Effect of Incident Cluster Ion Size on Secondary Ion Yields Produced from Si |
| 著者: | Ninomiya, S Ichiki, K Nakata, Y Seki, T    https://orcid.org/0000-0002-0834-1657 (unconfirmed)Aoki, T https://orcid.org/0000-0002-5926-4903 (unconfirmed)Matsuo J https://orcid.org/0000-0003-0684-3677 (unconfirmed) |
| 発行日: | 2007 |
| 出版者: | Materials Research Society of Japan |
| 誌名: | Transactions of the Materials Research Society of Japan |
| 巻: | 32 |
| 号: | 4 |
| 開始ページ: | 895 |
| 終了ページ: | 898 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/67604 |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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