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| タイトル: | Alternative techniques to reduce interface traps in n-type 4H-SiC MOS capacitors |
| 著者: | Pensl, Gerhard Beljakowa, Svetlana Frank, Thomas Gao, Kunyuan Speck, Florian Seyller, Thomas Ley, Lothar Ciobanu, Florin Afanas'ev, Valery Stesmans, Andre Kimoto, Tsunenobu    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)Schoener, Adolf |
| 発行日: | 2008 |
| 出版者: | WILEY-V C H VERLAG GMBH |
| 誌名: | PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS |
| 巻: | 245 |
| 号: | 7 |
| 開始ページ: | 1378 |
| 終了ページ: | 1389 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/78615 |
| DOI(出版社版): | 10.1002/pssb.200844011 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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