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| タイトル: | Disappearance of stress singularity at interface edge due to nanostructured thin film |
| 著者: | Sumigawa, Takashi    https://orcid.org/0000-0002-5713-4072 (unconfirmed)Hirakata, Hiroyuki Takemura, Masaki Matsumoto, Shohel Suzuki, Motofumi https://orcid.org/0000-0002-6473-9141 (unconfirmed)Kitamura, Takayuki |
| キーワード: | nanosprings thin film stress concentration interface stress reduction free edge crack tip singularity dynamic oblique deposition |
| 発行日: | 2008 |
| 出版者: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| 誌名: | ENGINEERING FRACTURE MECHANICS |
| 巻: | 75 |
| 号: | 10 |
| 開始ページ: | 3073 |
| 終了ページ: | 3083 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/78968 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/j.engfracmech.2007.12.010 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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