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| タイトル: | Change of the V-I curve and critical current with applied tensile strain due to cracking of filaments in Bi2223 composite tape |
| 著者: | Shin, JK Ochiai, S  Okuda, H   https://orcid.org/0000-0001-7866-4876 (unconfirmed)Sugano, M Oh, SS |
| 発行日: | 2008 |
| 出版者: | IOP PUBLISHING LTD |
| 誌名: | SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY |
| 巻: | 21 |
| 号: | 11 |
| 論文番号: | 115007 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/79062 |
| DOI(出版社版): | 10.1088/0953-2048/21/11/115007 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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