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タイトル: | Flat surface after high-temperature annealing for phosphorus-ion implanted 4H-SiC (0001) using graphite cap |
著者: | Negoro, Y Katsumoto, K Kimoto, T https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed) Matsunami, H |
キーワード: | Hall effect phosphorus-ion implantation sheet resistance graphite cap |
発行日: | 2004 |
出版者: | TRANS TECH PUBLICATIONS LTD |
誌名: | SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2003, PTS 1 AND 2 |
巻: | 457-460 |
開始ページ: | 933 |
終了ページ: | 936 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/8840 |
リンク: | Web of Science |
出現コレクション: | 英文論文データベース |
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