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タイトル: Low sheet resistance of high-dose aluminum implanted 4H-SiC using (11-20) face
著者: Negoro, Y
Katsumoto, K
Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Matsunami, H
Schmid, F
Pensl, G
キーワード: (11-20)
Hall effect
ion implantation
sheet resistance
発行日: 2004
出版者: TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
誌名: SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2003, PTS 1 AND 2
巻: 457-460
開始ページ: 913
終了ページ: 916
URI: http://hdl.handle.net/2433/8841
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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