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タイトル: Technological aspects of ion implantation in SiC device processes
著者: Negoro, Y
Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Matsunami, H
キーワード: implantation
device process
annealing
diffusion
(11-20) face
graphite cap
発行日: 2005
出版者: TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
誌名: SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2004
巻: 483
開始ページ: 599
終了ページ: 604
URI: http://hdl.handle.net/2433/8843
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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