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タイトル: Short-Channel Effects in 4H-SiC MOSFETs
著者: Noborio, M
Kanzaki, Y
Suda, J  KAKEN_id
Kimoto, T  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
Matsunami, H
キーワード: MOSFET
short-channel effect
punchthrough
threshold voltage
subthreshold characteristics
発行日: 2005
出版者: TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
誌名: SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2004
巻: 483
開始ページ: 821
終了ページ: 824
URI: http://hdl.handle.net/2433/8847
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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